基于at89c52单片机，用ad芯片lm358，测量模拟电压
上传时间： 2013-04-24
上传用户：脚趾头
在分析现有功率因数检测电路的基础上,提出了基于单片机电压采样的功率因数检测方法。叙述了电压采样测量功率因数的原理,设计出了以PIC16F877单片机核心的功率因数在线检测电路。并采用两种不同的负载进行了功率因数在线检测试验,通过对试验结果分析、比较可以看出该在线检测电路具有较高的精度。
上传时间： 2013-11-18
上传用户：ginani
eeworm.com VIP专区 单片机源码系列 1资源包含以下内容：1. 51单片机C语言入门教程.rar2. 用C51编写单片机延时函数.rar3. DS18B20温度转换与显示.rar4. AT45DB161D的测试程序.rar5. DATLV5618.rar6. SD_Card.zip7. KEILC51中文使用手册.rar8. 步进电机带调速程序.rar9. ISO14443.rar10. FM1702SL.rar11. 51系列单片机设计实例.rar12. 4X4矩阵键盘控制实验.rar13. 读卡程序.rar14. 万年历.rar15. C8051F大学课程.rar16. 基于AT89C2051的红外遥控学习器源程序.rar17. C语言实战105例源码.zip18. DIY小型LED点阵显示系统.rar19. IO模拟SPI实验.rar20. 温度监控系统的设计.rar21. F020.rar22. 51单片机常用汇编子程序.rar23. 基于DS18B20的可控温度报警器.rar24. c8051f310xmodembootloader.rar25. AVR单片机例程-微雪电子.rar26. TCP-IP_C51源程序.zip27. 基于ARM7最小系统的设计.rar28. sample_code_SHTxx.rar29. C计算器源代码.rar30. AT89C2051单片机做节日彩灯控制电路程序.rar31. 多功能遥控小车的硬件软件设计程序.rar32. 采用mega8和18b20的温度采集程序.rar33. modbus51.rar34. MEGA16读AD7705程序.rar35. 4位数码管动态显示实验.rar36. AVR单片机I2C总线实验.rar37. SPI接口实验LED显示.rar38. 时钟日历芯片PCF8563的应用程序（C语言）.rar39. 25811226hongwaigooog.rar40. 17869333sensor.rar41. 《AVR单片机原理及应用》.rar42. 16×16.zip43. 单片机应用技术（C语言版）[王静霞][程序源代码].zip44. SHT75.rar45. ARM论文集.rar46. psoc介绍及示例程序.zip47. 485通信仿真源码.rar48. 51单片机及其C语言程序开发实例光盘资料.rar49. 51单片机.rar50. 10红外解码.rar51. 《51单片机C语言快速上手》.rar52. 51单片机播放音乐电路仿真和代码.rar53. C语言程序设计实训100例——基于8051Proteus仿真.zip54. ST7565_Driver_menu.rar55. 红外抄表器.rar56. CAN现场总线.rar57. AD采样测量电压.rar58. LCD12864上显示波形.rar59. 基于AVR单片机GPS控制系统C程序.rar60. STM32F107_ETH_LwIP_V1.0.0.rar61. Si4432-T-B1版本资料.rar62. 模拟SPI控制nRF24L01程序.rar63. DS1302时钟DS18B20.rar64. 1602字符液晶滚动演示程序.zip65. 《PLC实用子程序》源代码下载.rar66. 超声波程序.rar67. 交通灯设计.rar68. Zigbee模块的详细电路原理图和C代码.rar69. 四轴飞行器代码.rar70. 用labview和pic单片机打造虚拟数字示波器上位机源程序.rar71. 用labview和pic单片机打造虚拟示波器下位机源程序.rar72. 1700语音芯片SPI控制程序.rar73. AVR触摸键盘.rar74. 基于AVR单片机的三相spwm波.rar75. 74HC165读按键.rar76. I2C协议.rar77. 51的GPS开发的NMEA数据读取与解析.rar78. 基于DS18B20的温度实时采集与显示系统的设计与实现.rar79. 基于单片机的PID温度控制系统.rar80. 33个毕业设计单片机类.rar81. 单片机外围电路设计.rar82. STM32SDCardSourceCodeFATFS.rar83. 基于ATM89C51单片机的IC卡读写器的设计.zip84. 51单片机时钟+秒表程序.rar85. 24l01 7对1 多机通信.rar86. 范例程序 SONiX.rar87. 单片机脉搏测量仪.doc88. 中颖单片机SH88F516例程.rar89. L298N直流电机步进电机两用驱动器.rar90. ARM LPC2478 CAN收发程序.rar91. 8051单片机C语言彻底应用.pdf92. STC单片机控制5线四相24BYJ-48 5V DC 步进电机正反转驱动程序.rar93. 基于单片机的红外遥控风扇硬件电路与程序.rar94. STM8示例程序.rar95. 12864菜单.rar96. 步进电机控制程序.rar97. ad9850.rar98. 51单片机LCD160128驱动程序.rar99. 51单片机I2C总线E2ROM驱动程序.rar100. scsi_port_guild.rar
上传时间： 2013-05-15
上传用户：eeworm
提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。
上传时间： 2013-11-19
上传用户：fairy0212
采样等精度测量的VHDL程序．．在xilinx ISE 8.1上验证通过
上传时间： 2014-01-15
上传用户：1109003457
虚拟声卡频率计： 1.请使用支持44100Hz采样频率的声卡。 2.频率测量范围：1Hz—16384Hz。 3.采样时间：1秒（S）。 4.被测信号从声卡线路输入端的左或右声道，或两个声道同时输入，也可从话筒端输入。
上传时间： 2014-01-02
上传用户：坏天使kk
一种基于A／D采样的低频信号测量方法：介绍了数据采样的方法．相应的硬件电路的设计．软件算法。并给出测量结果分析和减小误差补偿的方法
上传时间： 2016-02-22
上传用户：181992417
用过采样和求均值提高ADC分辨率 很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动 态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高分辨率的片外ADC 然而也可以通过使用一些技术来达到较高的分辨率和SNR 本应用笔记介绍用过采样和求均值的方 法来提高模数转换的分辨率和SNR 过采样和求均值技术可以在不使用昂贵的片外ADC的情况下提 高测量分辨率 本应用笔记讨论如何使用过采样和求均值的方法来提高模/数转换 ADC 测量的分辨率 另 外 本文最后的附录A B和C分别给出了对ADC噪声的深入分析 最适合过采样技术的ADC噪声 类型和使用过采样和求均值技术的示例代码
上传时间： 2016-06-20
上传用户：hanli8870
基于∑-△噪声整形技术和过采样技术的数模转换器(DAC)可以可靠地把数字信号转换成为高精度的模拟信号。采用这一结构进行数模转换具有诸多优点,例如极低的失配噪声和高的可靠性,便于作为IP模块嵌入到其他芯片系统中等,更重要的是可以得到其他DAC结构所无法达到的精度和动态范围。在高精度测量、音频转换、汽车电子等领域有着广泛的应用价值。 由于非线性和不稳定性的存在,高阶∑-△调制器的设计与实现存在较大的难度。本设计综合大量文献中的经验原则和方法,首先阐述了∑-△调制器的一般原理,并讨论了一般结构调制器的设计过程,然后描述了稳定的高阶高精度调制器的设计流程。根据市场需求,设定了整个设计方案的性能指标,并据此设计了达到16bit精度和满量程输入范围的三阶128倍过采样调制器。 本设计采用∑-△结构,根据系统要求设计了量化器位数、调制器过采样比和阶数。在分析高阶单环路调制器稳定性的基础上,成功设计了六位量化三阶单环路调制器结构。在16比特的输入信号下,达到了90dB左右的信噪比。该设计已经在Cyclone系列FPGA器件下得到硬件实现和验证,并实现了实时音频验证。测试表明,该DAC模块输出信号的信噪比能满足16比特数据转换应用的分辨率要求,并具备良好的兼容性和通用性。 本设计可作为IP核广泛地在其他系统中进行复用,具有很强的应用性和一定的创新性。
上传时间： 2013-07-10
上传用户：chuandalong
随着半导体工艺的飞速发展和芯片设计水平的不断进步，ARM微处理器的性能得到大幅度地提高，同时其芯片的价格也在不断下降，嵌入式系统以其独有的优势，己经广泛地渗透到科学研究和日常生活的各个方面。 本文以ARM7 LPC2132处理器为核心，结合盖革一弥勒计数管对Time-To-Count辐射测量方法进行研究。ARM结构是基于精简指令集计算机(RISC)原理而设计的，其指令集和相关的译码机制比复杂指令集计算机要简单得多，使用一个小的、廉价的ARM微处理器就可实现很高的指令吞吐量和实时的中断响应。基于ARM7TDMI-S核的LPC2132微处理器，其工作频率可达到60MHz，这对于Time-To-Count技术是非常有利的，而且利用LPC2132芯片的定时/计数器引脚捕获功能，可以直接读取TC中的计数值，也就是说不再需要调用中断函数读取TC值，从而大大降低了计数前杂质时间。本文是在我师兄吕军的《Time-To-Count测量方法初步研究》基础上，使用了高速的ARM芯片，对基于MCS-51的Time-To-Count辐射测量系统进行了改进，进一步论证了采用高速ARM处理器芯片可以极大的提高G-M计数器的测量范围与测量精度。 首先，讨论了传统的盖革-弥勒计数管探测射线强度的方法，并指出传统的脉冲测量方法的不足。然后讨论了什么是Time-To-Count测量方法，对Time-To-Count测量方法的理论基础进行分析。指出Time-To-Count方法与传统的脉冲计数方法的区别，以及采用Time-To-Count方法进行辐射测量的可行性。 接着，详细论述基于ARM7 LPC2132处理器的Time-To-Count辐射测量仪的原理、功能、特点以及辐射测量仪的各部分接口电路设计及相关程序的编制。 最后得出结论，通过高速32位ARM处理器的使用，Time-To-Count辐射测量仪的精度和量程均得到很大的提高，对于Y射线总量测量，使用了ARM处理器的Time-To-Count辐射测量仪的量程约为20 u R/h到1R/h，数据线性程度也比以前的Time-To-CotJnt辐射测量仪要好。所以在使用Time-To-Count方法进行的辐射测量时，如何减少杂质时间以及如何提高计数前时间的测量精度，是决定Time-To-Count辐射测量仪性能的关键因素。实验用三只相同型号的J33G-M计数管分别作为探测元件，在100U R/h到lR/h的辐射场中进行试验.每个测量点测量5次取平均，得出随着照射量率的增大，辐射强度R的测量值偏小且与辐射真实值之间的误差也随之增大。如果将测量误差限定在10％的范围内，则此仪器的量程范围为20 u R/h至1R/h，量程跨度近六个数量级。而用J33型G-M计数管作常规的脉冲测量，量程范围约为50 u R/h到5000 u R/h，充分体现了运用Time-To-Count方法测量辐射强度的优越性，也从另一个角度反应了随着计数前时间的逐渐减小，杂质时间在其中的比重越来越大，对测量结果的影响也就越来越严重，尽可能的减小杂质时间在Time-To-Count方法辐射测量特别是测量高强度辐射中是关键的。笔者用示波器测出此辐射仪器的杂质时间约为6.5 u S，所以在计算定时器值的时候减去这个杂质时间，可以增加计数前时间的精确度。通过实验得出，在标定仪器的K值时，应该在照射量率较低的条件下行，而测得的计数前时间是否精确则需要在照射量率较高的条件下通过仪器标定来检验。这是因为在照射量率较低时，计数前时间较大，杂质时间对测量结果的影响不明显，数据线斜率较稳定，适宜于确定标定系数K值，而在照射量率较高时，计数前时间很小，杂质时间对测量结果的影响较大，可以明显的在数据线上反映出来，从而可以很好的反应出仪器的性能与量程。实验证明了Time-To-Count测量方法中最为关键的环节就是如何对计数前时间进行精确测量。经过对大量实验数据的分析，得到计数前时间中的杂质时间可分为硬件杂质时间和软件杂质时间，并以软件杂质时间为主，通过对程序进行合理优化，软件杂质时间可以通过程序的改进而减少，甚至可以用数学补偿的方法来抵消，从而可以得到比较精确的计数前时间，以此得到较精确的辐射强度值。对于本辐射仪，用户可以选择不同的工作模式来进行测量，当辐射场较弱时，通常采用规定次数测量的方式，在辐射场较强时，应该选用定时测量的方式。因为，当辐射场较弱时，如果用规定次数测量的方式，会浪费很多时间来采集足够的脉冲信号。当辐射场较强时，由于辐射粒子很多，产生脉冲的频率就很高，规定次数的测量会加大测量误差，当选用定时测量的方式时，由于时间的相对加长，所以记录的粒子数就相对的增加，从而提高仪器的测量精度。通过调研国内外先进核辐射测量仪器的发展现状，了解到了目前最新的核辐射总量测量技术一Time-To-Count理论及其应用情况。论证了该新技术的理论原理，根据此原理，结合高速处理器ARM7 LPC2132，对以G-计数管为探测元件的Time-To-Count辐射测量仪进行设计。论文以实验的方法论证了Time-To-Count原理测量核辐射方法的科学性，该辐射仪的量程和精度均优于以前以脉冲计数为基础理论的MCS-51核辐射测量仪。该辐射仪具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等优点。用户可以定期的对仪器的标定，来减小由于电子元件的老化对低仪器性能参数造成的影响，通过Time-To-Count测量方法的使用，可以极大拓宽G-M计数管的量程。就仪器中使用的J33型G-M计数管而言，G-M计数管厂家参考线性测量范围约为50 u R/h到5000 u R/h，而用了Time-To-Count测量方法后，结合高速微处理器ARM7 LPC2132，此核辐射测量仪的量程为20 u R/h至1R/h。在允许的误差范围内，核辐射仪的量程比以前基于MCS-51的辐射仪提高了近200倍，而且精度也比传统的脉冲计数方法要高，测量结果的线性程度也比传统的方法要好。G-M计数管的使用寿命被大大延长。 综上所述，本文取得了如下成果：对国内外Time-To-Count方法的研究现状进行分析，指出了Time-To-Count测量方法的基本原理，并对Time-T0-Count方法理论进行了分析，推导出了计数前时间和两个相邻辐射粒子时间间隔之间的关系，从数学的角度论证了Time-To-Count方法的科学性。详细说明了基于ARM 7 LPC2132的Time-To-Count辐射测量仪的硬件设计、软件编程的过程，通过高速微处理芯片LPC2132的使用，成功完成了对基于MCS-51单片机的Time-To-Count测量仪的改进。改进后的辐射仪器具有量程宽、精度高、易操作、用户界面友好等特点。本论文根据实验结果总结出了Time-To-Count技术中的几点关键因素，如：处理器的频率、计数前时间、杂质时间、采样次数和测量时间等，重点分析了杂质时间的组成以及引入杂质时间的主要因素等，对国内核辐射测量仪的研究具有一定的指导意义。
标签： TimeToCount ARM 辐射测量仪
上传时间： 2013-06-24
上传用户：pinksun9
