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ADC

ADC带进位的加法指令ADCReg/Mem,Reg/Mem/Imm功能。
  • 采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案.rar

    采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案

    标签: f2812 2812 320f TMS

    上传时间: 2013-08-01

    上传用户:wang5829

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词:ADC测试;并行;参数评估;FPGA;FFT

    标签: FPGA ADC 并行测试

    上传时间: 2013-07-10

    上传用户:tdyoung

  • 时分交替ADC系统数字校准算法

    随着现代通信与信号处理技术的不断发展,对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是,随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小,在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时,时分交替ADC 作为...

    标签: ADC 时分 数字校准

    上传时间: 2013-07-08

    上传用户:mylinden

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。    本研究通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成了音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。

    标签: FPGA ADC 并行测试 方法研究

    上传时间: 2013-06-07

    上传用户:gps6888

  • LM3S ADC例程多种采样触发方式

    LM3S系列ADC例程:多种采样触发方式

    标签: LM3S ADC 采样 触发

    上传时间: 2013-05-29

    上传用户:6546544

  • LM3S系列ADC例程内置的温度传感器

    LM3S系列ADC例程:内置的温度传感器

    标签: LM3S ADC 内置 温度传感器

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:qunquan

  • freescale k40/k60 ADC 例程

    freescale k40/k60 ADC 例程

    标签: freescale ADC 40 60

    上传时间: 2013-06-29

    上传用户:zhaiye

  • freescale k40/k60 pdb-ADC 例程

    freescale k40/k60 cortex m4 pdb-ADC 例程

    标签: freescale pdb-ADC 40 60

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:xuan‘nian

  • STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 例程

    STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程

    标签: ADC-Interleaved_DMAmode Discovery STM 32

    上传时间: 2013-04-24

    上传用户:朗朗乾坤

  • DSP的ADC原理

    DSP的ADC原理,对软硬件AD采样精度有帮助

    标签: DSP ADC

    上传时间: 2013-06-18

    上传用户:二驱蚊器