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测试方案

  • TS200测试方案

    TS200测试方案

    标签: 200 TS 测试方案

    上传时间: 2014-12-28

    上传用户:小眼睛LSL

  • TS600测试方案

    TS600的测试方案

    标签: 600 TS 测试方案

    上传时间: 2014-12-28

    上传用户:jrsoft

  • 说明书Abacus50无线网络话音质量测试方案

    说明书Abacus50无线网络话音质量测试方案

    标签: Abacus 50 说明书 无线网络

    上传时间: 2015-12-07

    上传用户:13188549192

  • 非常详细非常有用的ASIC验证测试方案

    非常详细非常有用的ASIC验证测试方案,据说是美国军方用的

    标签: ASIC 验证测试 方案

    上传时间: 2014-01-24

    上传用户:colinal

  • 最新RF测试方案

    最新RF测试方案,使用CYPRESS IC,全套技术

    标签: RF测试 方案

    上传时间: 2016-10-31

    上传用户:zm7516678

  • 环保行业的软件测试方案,主要应用于科研院所

    环保行业的软件测试方案,主要应用于科研院所

    标签: 环保 方案 应用于 软件测试

    上传时间: 2017-07-27

    上传用户:开怀常笑

  • USB-PD快充和Type-C测试方案

    USB-PD快充和Type-C测试方案USB-PD(Power Delivery)是基于USB Type-C的供电标准,最大功率可达100W虽然USB-PD快充越来越热,但行业内并没有针对快充的测试工具,ZLG致远电子正式发布USB-PD测试方案,并提供免费上门测试!1、USB Type-C简介Type-C是USB接口的一种形式,不分正反两面均可插入,支持USB标准的充电、数据传输、视频传输、音频传输、显示输出等功能。支持USB-PD后则可实现高达100W的电源供电。本文涉及的USB-PD就是通过Type-C的“配置通道引脚CC'(图1)进行通讯的。USB-PD物理层使用单线通讯(Type-C配置通道CO,为了增强抗干扰能力并均衡直流分量,发送协议数据时,物理层先使用4b/5b编码对数据进行转换,再使用双相标记编码(BMO对数据流进行二次转换,最终将信号输出到CC线上。接收的过程和发送的过程相反,具体过程如图2所示。发送者或接收者通常为 USB PD控制器或微处理器。对USB-PD协议进行分析时,只能通过CC线上传输的信号,其分析过程其实就类似于接收者的行为。

    标签: usb Type-C

    上传时间: 2022-06-23

    上传用户:d1997wayne

  • iTester交换机测试方案

    国内第一家自主研发的公司,测试仪完全自主产权; 测试仪性价比高,已广泛应用,受到市场的认可; 仪器接口开放,可定制开发测试项目; 仪器厂家的技术支持人员本地化,技能熟练,24小时服务响应; 仪器供货周期控制在2周内; 能建立通用的测试仪器平台,帮助国防及军队建设提供成熟的测试解决方案

    标签: iTester 交换机 测试方案

    上传时间: 2013-11-20

    上传用户:上善若水

  • 性能测试方案

    东南融通个人网银项目性能测试实施方案,具体描述东南融通个人网银项目性能测试实施过程

    标签: 方案

    上传时间: 2016-03-14

    上传用户:123459

  • 基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar

    高性能ADC产品的出现,给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化,减少了单个ADC的平均测试时间,从而降低ADC测试成本。 本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上,总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数评估算法,并对2个ADC在不同样本数条件下进行并行测试。 通过在FPGA内部实现ADC测试时域算法和频域算法相结合的方法来搭建测试系统,完成音频编解码器WM8731L的控制模式接口、音频数据接口、ADC测试时域算法和频域算法的FPGA实现。整个测试系统使用Angilent 33220A任意信号发生器提供模拟激励信号,共用一个FPGA内部实现的采样时钟控制模块。并行测试系统将WM8731.L片内的两个独立ADC的串行输出数据分流成左右两通道,并对其进行串并转换。然后对左右两个通道分别配置一个FFT算法模块和时域算法模块,并行地实现了ADC参数的评估算法。 在样本数分别为128和4096的实验条件下,对WM8731L片内2个被测.ADC并行地进行参数评估,被测参数包括增益GAIN、偏移量OFFSET、信噪比SNR、信号与噪声谐波失真比SINAD、总谐波失真THD等5个常用参数。实验结果表明,通过在FPGA内配置2个独立的参数计算模块,可并行地实现对2个相同ADC的参数评估,减小单个ADC的平均测试时间。 FPGA片内实时评估算法的实现节省了测试样本传输至自动测试机PC端的时间。而且只需将HDL代码多次复制,就可实现多个被测ADC在同一时刻并行地被评估,配置灵活。基于FPGA的ADC并行测试方法易于实现,具有可行性,但由于噪声的影响,测试精度有待进一步提高。该方法可用于自动测试机的混合信号选项卡或测试子系统。 关键词:ADC测试;并行;参数评估;FPGA;FFT

    标签: FPGA ADC 并行测试

    上传时间: 2013-07-10

    上传用户:tdyoung