zemax test file

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zemax test file 相关的电子技术资料,包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等,共 3572 篇文章,持续更新中。

接收 NRF905_TEST汇编

想要快速实现NRF905模块的通信测试?本资源提供接收与发送NRF905_TEST汇编代码,适用于无线射频开发中的调试与验证场景,帮助开发者高效完成协议测试和硬件交互。

test_DEMO

首先从设备上读出数据,并将数据显示在屏幕上,这时读到的数据位初始化值,然后向设备写入数据,再从设备上读出数据,又将数据显示在屏幕上,这时候读到的数据为上一步写入的数据。

protel

解决win7底下protel99se无法打开自己创建的原理图库和pcb封装库的问题(file not recognized)的word图文教程。win7下已试,可用。

CP_SecureMMC_1_00_test

CP_SecureMMC_1_00_test

MC_FAT16_File_System_Specification_v1.0

深入解析FAT16文件系统的精髓,这份难得一见的技术文档详细介绍了MC_FAT16的内部结构和操作机制。对于嵌入式系统开发者而言,这是一份不可多得的参考资料,能够帮助你更好地理解和实现FAT16文件系统。

12864带字库测试程序_test

此测试程序专为TX-1C开发板设计,采用高效字库管理技术,确保在12864液晶屏上显示文本的稳定性和清晰度。基于行业标准的专业实现,它不仅支持多种字体格式,还具备良好的兼容性与扩展性,便于开发者进行二次开发或集成到更复杂的应用场景中。

TX-1C 12864程序

12864测试程序_test,对于TX-1C板,欢迎初次接触51的朋友下载。

zemax2009

一套完整的光学设计工具,适用于光学组件设计和照明系统照度分析。支持反射、折射、绕射等光学模型的建立,并具备优化和公差分析功能。该软件能够处理Sequential及Non-Sequential模式,是光学工程师的理想选择。

m-phy test

How to Test a MIPI M-PHY High-Speed Receiver Challenges and Agilent Solutions

Test Procedure for CAN Bus

一套针对CAN总线抗干扰性能评估的测试流程,基于无线电频率检测器的应用。该文档详细介绍了如何使用RF检测技术来评估CAN总线在不同环境下的稳定性和可靠性,适用于汽车电子和工业自动化领域的工程师和技术人员。

CODE-TEST-STM8L152C6

这份详尽的测试代码专为STM8L152C6微控制器设计,适用于各种嵌入式系统的开发与调试。无论是初学者还是经验丰富的工程师,都能从中受益匪浅。它不仅包含了基础的功能测试,还深入探讨了更复杂的场景应用,帮助您全面掌握该型号单片机的各项特性。此资源完全免费提供,并确保内容完整无缺。

CH376_51SPI_test

CH376_51SPI_test是一款专为51单片机设计的USB控制驱动程序,通过SPI接口实现与CH376 USB芯片的高效通信。此资源适用于需要在嵌入式系统中集成USB功能的设计项目,如数据存储、文件传输等应用场景。它不仅提供了详细的代码示例,还附带了完整的开发文档,帮助开发者快速上手并进行二次开发。无论是初学者还是经验丰富的工程师,都能从中受益匪浅。现在即可免费下载完整版。

ZEMAX

ZEMAX中文版汉化软件,专为光学设计与仿真而生。这款强大的工具支持从简单的透镜设计到复杂的多元素光学系统模拟,是光学工程师、研究人员及教育工作者不可或缺的利器。它不仅提供了直观易用的界面,还具备丰富的功能模块,如非序列光线追踪、物理光学传播等,极大地提高了设计效率和准确性。无论是初学者还是资深用户,都能通过本资源快速上手并深入探索光学世界的奥秘。现在即可免费下载完整版,开启您的创新之旅。

2410_TEST工程源代码

专为YF2410开发板设计的2410_TEST工程源代码,是您进行嵌入式系统开发不可或缺的宝贵资源。此套源代码涵盖了从基础硬件驱动到高级应用的所有关键部分,非常适合初学者学习以及专业开发者快速构建项目原型。通过研究这些高质量的示例代码,您可以深入了解ARM架构下的软件开发流程,并掌握如何高效利用YF2410平台的各项功能特性。现在就免费下载完整版资料包,开启您的创新之旅!

LPC1768路虎开发板光盘-SD_File例程

LPC1768路虎开发板光盘-SD_File例程

mouse test program

用C语言编写的鼠标测试程序,用于工厂生产用

以太网调试软件

TCP UDP 测试工具, 可以与串口工具相比-TCP UDP test tools can be compared with the serial tool

fifo堆栈

VHDL Test Bench created by HDL Bencher 1.02 -- Mon Feb 05 11:59:49 2001 LIBRARY ieee; USE ieee.std_logic_1164.all; USE ieee.std_logic_unsigned.all; LIBRARY UNISIM;

UART_TEST.doc

模拟串口程序,;;*SUB. NAME:UART TEST CODE * ;;*INPUT : * ;;*OUTPUT :

test_driven_development_for_embedded_c.pdf

test_driven_development_for_embedded_c.pdf