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DSP编程  采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案.rar

采用软件校正的TMS320f2812内置ADC采样值方案

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学术论文  基于FPGA的ADC并行测试方法研究.rar

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...

https://www.eeworm.com/dl/514/9060.html

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学术论文  时分交替ADC系统数字校准算法

随着现代通信与信号处理技术的不断发展，对于高速高精度AD转换器的需求越来越大。但是，随着集成电路工艺中电路特征线宽的不断减小，在传统单通道ADC框架下同时实现高速、高精度的数模转换愈加困难。此时，时分交替ADC 作为... ...

https://www.eeworm.com/dl/514/13715.html

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学术论文  基于FPGA的ADC并行测试方法研究

高性能ADC产品的出现，给混合信号测试领域带来前所未有的挑战。并行ADC测试方案实现了多个ADC测试过程的并行化和实时化，减少了单个ADC的平均测试时间，从而降低ADC测试成本。本文实现了基于FPGA的ADC并行测试方法。在阅读相关文献的基础上，总结了常用ADC参数测试方法和测试流程。使用FPGA实现时域参数评估算法和频域参数 ...

https://www.eeworm.com/dl/514/13846.html

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单片机编程  LM3S ADC例程多种采样触发方式

LM3S系列ADC例程：多种采样触发方式

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单片机编程  LM3S系列ADC例程内置的温度传感器

LM3S系列ADC例程：内置的温度传感器

https://www.eeworm.com/dl/502/14914.html

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单片机编程  freescale k40/k60 adc 例程

freescale k40/k60 adc 例程

https://www.eeworm.com/dl/502/16057.html

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单片机编程  freescale k40/k60 pdb-adc 例程

freescale k40/k60 cortex m4 pdb-adc 例程

https://www.eeworm.com/dl/502/16066.html

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单片机编程  STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 例程

STM32F4-Discovery ADC-Interleaved_DMAmode2 keil&iar例程

https://www.eeworm.com/dl/502/16080.html

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书籍源码  DSP的ADC原理

DSP的ADC原理，对软硬件AD采样精度有帮助

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