NAND

共 590 篇文章
NAND 相关的电子技术资料,包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等,共 590 篇文章,持续更新中。

74HC03.pdf

英文描述: Quad 2-input NAND gate 中文描述: 四2输入与非门

74HC01.pdf

英文描述: Quad. 2-input NAND Gates (with open drain outputs) 中文描述: 四。 2输入与非门(与开漏输出)

74LS132.pdf

英文描述: Quad 2-Input NAND Gate with Schmitt Trigger Input 中文描述: 四2输入与非门的施密特触发器输入

74LS12.pdf

英文描述: TRIPLE 3-INPUT POSITIVE-NAND GATES WITH COLLECTOR OUTPUTS 中文描述: 三重3输入阳性的NAND门,集电极输出

74LS40.pdf

中文描述:双4输入与非缓冲 英文描述:DUAL 4-INPUT NAND BUFFER

74LS30.pdf

英文描述: 8-INPUT NAND GATE 中文描述: 8输入与非门

74LS38.pdf

英文描述: QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND BUFFERS WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUTS 中文描述: 四2输入阳性开放NAND闪存缓冲区,集电极输出

74LS37.pdf

英文描述: QUADRUPLE 2-INPUT POSITIVE-NAND BUFFERS 中文描述: 四2输入阳性的NAND缓冲器

7401_DataSheet

英文描述:Quad 2-Input NAND Gates with Open-Collector Outputs 中文描述:四2输入与非门与集电极开路输出

74LS22.pdf

英文描述: DUAL 4 INPUT POSITIVE NAND GATES WITH OPEN COLLECTOR OUTPUTS 中文描述: 4输入双阳性的NAND盖茨集电极开路输出

74LS03

中文描述:四2输入与非门与集电极开路输出 英文描述:Quad 2-Input NAND Gates with Open-Collector Outputs

74LS10.pdf

中文描述:三重3输入与非门 英文描述:TRIPLE 3-INPUT NAND GATE

K9F1G08UOA在MSP430单片机系统

根据NAND FLASH芯片K9F1G08U0A的非易失性、容量大、速度快、功耗低等特点,将其作为存储介质应用于MSP430单片机系统扩展中,通过相应的软硬件设计,实现采集数据的实时存储,便于后续对数据进行离线分析及研究处理,并通过C8051F320单片机USB接口与PC机通信。

三星的S3C44B0X

用的是三星的S3C44B0X,板子上有8M SDRAM、2M NOR FLASH、16M NAND FLASH、USB接口和两个串口

HY27系列NANDFlash存取性能与接口

2005年全国单片机与嵌入式系统学术交流会论文,“HY27系列NAND Flash存储器的存取性能与标准接口”,本文介绍HY27系列NAND Flash存储器的内部逻辑结构,外部引脚配置与功能,芯片各种读操作、编程操作、擦除操作、写保护的命令时序和状态查询;提供了标准NAND Flash存储器与微型计算机系统的接口逻辑。

基于K9F1G08的多通道数字录放音系统设计

· 摘要:  K9F1G08是128M NAND型闪速存储器.文章提出了以K9F1G08为数据存储器的多通道录放音系统的实现方案,同时给出了K9F1G08与DSP TMS320VC5402的硬件连接和软件实现流程.  

尚观培训源码编程

尚观培训源码编程。nand_flash驱动编程和应用编程,完全代码

Omap L138 原理图

包括DDR、Nand、SD、audio、LCD、Ethernet、USB、SATA等接口

S3C2410A数据手册

三星S3C2410X ARM芯片手册,其中包括:存储器控制器、 Nand Flash控制器、DMA控制器、LCD控制器、S3C2410 的ADC 和触摸屏接口等几个主要章节。

嵌入式ARM9-2440实战手册

广嵌开发板配套的教程。 实验1 ARM 汇编指令编程实验. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 实验2 C 和ARM 汇编混合编程实验. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .