Express VI
共 560 篇文章
Express VI 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 560 篇文章，持续更新中。
白光发光二极管设计制造
<P>白光发光二极管设计制造 <BR>我们研究制作Ultra-Violet磊芯片，并采用II-VI化合物材料，掺杂I价或III价的材料，制作了R、G、B三原色的荧光体。荧光体能将300nm至400nm
82527应用技术资料更新(1998年)
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3V、高级引导块闪速存储器（以28F800B3 28F800BE为例）实现低功耗设计
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100系列闪速存储器微型卡适配器使用参考
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传感器输出信号谐波分量的虚拟仪器测量
基于LabVIEW 6. i 软件平台,采用快速傅里叶变换( FFI) 算法,设计了虚拟仪器(VI) 程序,对任<BR>何电量输出传感器周期信号的直流分量,各谐波分量的幅值和初相位进行测试。利用这个V
802.11b/g MiniPCI– Express card EWLEA05
802.11b/g MiniPCI– Express card with Atheros AR2423A chipset<BR>Chipset Atheros AR2423A RF/ BBP/ MAC
用于嵌入式系统的闪速存储器PCI内插卡（28F004S5、28F016S5、28F016S5、28F016S5）的使用指南
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通过自动测试设备及在线编程设备提高闪速存储器的编程速度(涉及器件,28F004S3,28F008S3,28F016S3,290597,28F004S5,28F008S5,28F016S5,28F008
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IDT PCI Express(r)在有线通讯系统中的作用
IDT PCI Express(r)在有线通讯系统中的作用:USING THE IDT PCI EXPRESS STANDARD<BR>SYSTEM-INTERCONNECT SOLUTION TO
jc5697824221
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基于FPGA的无人机大气数据测试系统
本文论述了无人机大气数据测试系统的工作原理,论证了适合其特点的总体方案,采用FPGA芯片作为系统的载体,并着重对系统级芯片内部模块化设计进行了论述.在设计中采取了按功能分割各个模块方法,并分别对测试系统的各个模块进行设计.以对指示空速Vi的测试系统作为设计的主干线,详细地论述了测试指示空速Vi的系统组成及各个模块之间关系.由于所有的模块均采用VHDL语言进行源代码的编写,所以在对总体及各个模块进行
pciexpress_mini
mini pci express datasheet
设计指南
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英特尔引导块存储器元件的软件下载程序方法
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28F016SA,SV FlashFile存储器与3 V、5 V FlashFile存储器(28F160S3,28F320S3,28F160S5,28F320S5)移植性设计指南
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高压发电机定子线棒和绕组的局部放电、介质损耗因数及电晕测试
<P>现代发电机的高电压定子绕组在运行中要承受高电压、VI,~ SJ及热应力的作用。在空气中和在高压氢气的条件下运行考虑的因素有所不同。对于绝缘来说，在高压氢气的条件下运行比在空气中运行有更多益处。对
用Advanced+引导块闪速存储器（C3,C2系列)结构设计出更高集成水平、更具安全性的系统
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在使用28F008SA指挥台模型的系统中进行从2+系列到V100系列 PC卡移植设计的注意事项
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英特尔3V 快速引导块28F800F3, 28F160F3和Motorola MPC860 CPU 接口的设计指南
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基于VI技术的舰船消磁设备集成测试系统
本文针对舰船消磁设备的测试需求，设计了基于虚拟仪器技术的集成测试系统。本文<BR>从硬件、软件两个方面介绍了该系统的设计方案与实现方法。该系统采用了USB 通用串行总线，具有示波器、信号发生器和通用测