试片

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试片 相关的电子技术资料,包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等,共 4 篇文章,持续更新中。

C8051F340开发板开发的通过调试片内温度传感器,AD进行数据采集,转换为环境温度的例子

C8051F340开发板开发的通过调试片内温度传感器,AD进行数据采集,转换为环境温度的例子,包括交叉开关的使用

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采用图像扫估方法获得了碳钢、低合金锅实海试片的腐蚀形貌图像,井对图像进行预处理及灰度分析 将所得样本的灰 度值分布和对应的腐蚀形貌作为知识库的标准样本,用模糊模式识别理论建立了腐蚀形貌诊断系统、可以由扫描灰度值分布判断金 属的表面腐蚀形貌

C8051F340开发板开发的通过调试片外电阻的值

C8051F340开发板开发的通过调试片外电阻的值,通过片内AD进行数据采集的例子,包括交叉开关的使用!

C8051F340开发板开发的通过调试片内温度传感器

C8051F340开发板开发的通过调试片内温度传感器,AD进行数据采集,转换为环境温度的例子,包括交叉开关的使用!