测量装置
共 10,000 篇文章
测量装置 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 10000 篇文章，持续更新中。
仪表放大器噪声
适用于高精度信号采集系统的噪声分析，帮助工程师识别和优化仪表放大器中的噪声源，提升信号完整性与测量精度。涉及热噪声、闪烁噪声及共模抑制比等关键技术点。
斩波稳定(自稳零)精密运算放大器
想要降低运算放大器的失调和漂移？斩波稳定技术能有效提升精度，是高要求测量和传感应用的理想选择。
自稳零仪表放大器
深入解析自稳零技术在仪表放大器中的应用，从原理到实现逐步讲解如何有效降低输入端电压失调与漂移。适合从事精密测量与信号调理的工程师学习参考。
精密运算放大器
基于行业标准设计，采用高精度运算放大器架构，支持轨到轨输出与低噪声性能。涵盖OP177、OP777等多款型号的信号调理应用分析，适用于精密测量与工业控制场景。
DSP散射测量仪的雷达测试板
专为雷达系统设计的DSP散射测量仪测试板，集成高效信号处理模块，适用于实际工程调试与性能验证，是嵌入式雷达开发的核心硬件工具。
DSP在电机功率测量中的应用
基于DSP的实时信号处理架构，实现电机功率的高精度测量与分析，采用浮点运算优化算法提升数据稳定性，适用于工业控制与能效评估场景。
2812的ADC模块提高精度的采样方法实现
基于TMS320F2812的ADC模块，提供经过实际项目验证的高精度采样方案，优化采样时序与校准逻辑，提升信号采集稳定性与分辨率，适用于工业控制与精密测量场景。
8051ARM和DSP指令周期的测试与分析
基于实际测试数据，深入分析8051、ARM与DSP架构下的指令周期表现，揭示不同处理器在执行效率上的差异。采用精确测量方法和标准化流程，适用于嵌入式系统性能优化与教学研究。
基于PIC和TDC磁致伸缩位移传感器
基于PIC单片机和TDC芯片的磁致伸缩位移传感器设计资料，涵盖硬件电路与信号处理方案，适用于工业自动化领域的高精度位移测量应用。
基于PIC的测频仪的设计与实现
难得一见的PIC单片机测频仪完整设计资料，涵盖硬件电路与软件算法实现，技术细节详实，适合嵌入式开发与频率测量研究。
惯性单元的数据处理算法研究
涵盖惯性测量单元数据处理算法的完整技术栈，从信号滤波到姿态解算进行系统讲解，适用于传感器融合与运动分析领域。
空乘人装置智能控制系统设计
深入解析矿山架空乘人装置的智能控制逻辑，结合实际应用场景，逐步讲解系统架构与核心算法设计，适合对工业自动化与控制系统感兴趣的开发者。
铂电阻测温的非线性校正方法
基于IEEE标准实现的铂电阻测温非线性校正算法，采用多项式拟合与温度补偿机制提升测量精度，适用于工业级温度控制系统设计。
STM32的电参数测量与数据传输
从STM32基础开始，逐步讲解如何实现电参数的采集与实时传输，涵盖ADC配置、数据处理及串口通信等核心内容，适合嵌入式开发入门与进阶学习。
STM32的全相位FFT相位差测量系统
基于STM32实现的全相位FFT相位差测量系统，适用于高精度信号分析场景。代码经过多个工业项目验证，可直接用于生产环境，支持实时相位差计算与频谱分析。
运算放大器共模抑制比(CMRR)
难得一见的运算放大器共模抑制比(CMRR)技术解析，深入讲解共模电压对输出的影响机制及测量方法，是模拟电路设计中不可或缺的核心参数。
运算放大器建立时间
解析运算放大器建立时间的定义与测量方法，涵盖信号响应特性及误差带分析，适用于模拟电路设计与测试场景。
基于DSP的蓄电池充放电装置研究
涵盖DSP控制技术与蓄电池充放电系统设计的完整研究，深入分析硬件电路与软件算法实现，适用于电力电子与储能系统开发人员参考。
旋变数字转换器
加工工具和机器人制造商利用旋变器和自整角机来提供精确的角度和旋转信息。在要求小尺寸、长期可靠性、绝对位置测量、高精度、低噪声工作的工厂和航空应用中，这些器件具有突出的作用。
ADC架构计数ADC
专为高分辨率低频场景设计的计数ADC，结合双斜、三斜、四斜积分技术，实现稳定精准的信号转换。工程师在精密测量与工业控制中可直接应用。