坏块
共 24 篇文章
坏块 相关的电子技术资料，包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等，共 24 篇文章，持续更新中。
U盘检测软件
u盘坏块检测工具 可以检测优盘是否坏掉
基于ARM的嵌入式数据存储系统研究
随着电子技术的不断发展，嵌入式系统越来越多地在控制类、消费类、通讯类等电子产品广泛应用，嵌入式技术也越来越和人们的生活紧密结合。同时，计算机硬件的发展以及数据量的增加，对存储设备的要求也越来越高。 本文深入研究了嵌入式系统中数据存储和数据交换，提出了一套完整的嵌入式系统中数据存储和数据交换的设计方案，并详细介绍了其实现过程。Flash存储器由于体积小、功耗低、性能稳定等特点在便携式电子产品中得到了
数据对比工具
数据对比工具，可以对存储设备（硬盘，优盘，SD等）进行数据对比测试，买优盘的时候最好带上这个工具，如果优盘有坏块的话，工具会提示出来，没有则pass。
基于ARM和uCOS-Ⅱ嵌入式平台的NAND Flash存储驱动系统设计
随着现代计算机技术和互联网技术的飞速发展，嵌入式系统成为了当前信息行业最热门的焦点之一。ARM以其高性能低功耗的特点成为目前主流的32位嵌入式处理器而在数码产品中广泛使用，随着数码相机的普及，数码相框产品得到推广，数码相框通过一个液晶的屏幕显示数码照片而非纸质照片，数码相框比普通相框更灵活多变，也给现在日益使用的数码相片一个新的展示空间。在嵌入式操作系统方面，uC/OS—Ⅱ凭借其小内核、多任务、丰
串口屏固件V1.07.04
串口屏固件 V1.07.04 说明：本字库适用于固件版本为V1.07及以上版本的标准型串口屏。固件升级完后需要重新上电及重新下载字库和图片：
其中：
12点阵及16点阵的字库文件已更新为GBK字库
HZK12.BIN
HZK16.bin
24点阵及32点阵的字库文件保留为GB2312字库
GB2312字库
HZK24.bin
HZK32.bin
发布原因
1.优化了Fl
Nand Flash存储管理在DSP系统中的实现
·摘要： Nand Flash因其体积小、容量大、成本低、掉电数据不丢失等一系列优点已经在嵌入式系统中得以广泛应用,然而,由于Flash读写存储的编程特点以及其生产工艺与使用过程中坏块不可避免的问题,有必要对其进行存储过程管理,以使整个系统性能得以改善.本文介绍以K9F6408U0C为代表的Nand flash的存储管理及基于磨损均衡思想的存储管理算法在DSPTMS320F28x的系统
S3c2440硬件测试程序
S3c2440硬件测试程序，主要功能包括：SDRAM读写测试，整片Falsh读写测试，Flash擦除，坏块检测，flash复制数据到SDRAM
内容描述： 1）FAT文件系统在NAND储存器上的改进运用 2）基于K9F2808UOC的FATl6文件系统 3）基于NAND Flash的FAT文件系统的实现 4）一种基于FAT文件系统的N
内容描述：
1）FAT文件系统在NAND储存器上的改进运用
2）基于K9F2808UOC的FATl6文件系统
3）基于NAND Flash的FAT文件系统的实现
4）一种基于FAT文件系统的NAND Flash坏块处理方法
一个nand flash管理的算法（匈牙利算法）
一个nand flash管理的算法（匈牙利算法），包括坏块管理，动态均衡等功能。
通过建立逻辑映射表读写NAND_FLASH,可以延长NAND_FLASH的使用寿命,排除坏块的干扰!其中包括NAND_FLASH读写驱动以及逻辑映射表的建立!根据自己的要求修改读写驱动即可使用
通过建立逻辑映射表读写NAND_FLASH,可以延长NAND_FLASH的使用寿命,排除坏块的干扰!其中包括NAND_FLASH读写驱动以及逻辑映射表的建立!根据自己的要求修改读写驱动即可使用
VIP专区-单片机源代码精选合集系列（50）
<b>eeworm.com VIP专区 单片机源码系列 49</b><br/><font color="red">资源包含以下内容：</font><br/>1. STM32中断与嵌套NVIC快速入门.rar<br/>2. 教你如何看懂时序图.rar<br/>3. AVR32801: UC3A3 Schematic Chec.pdf<br/>4. AT指令简编汇集.pdf<br/>5. HT MCU
VIP专区-单片机源代码精选合集系列（9）
<b>eeworm.com VIP专区 单片机源码系列 9</b><br/><font color="red">资源包含以下内容：</font><br/>1. STC12C5A60S2单片机(去水印+解锁版)(1).pdf<br/>2. PCI、STC、51单片机型号命名规则.rar<br/>3. LY6206线性稳压芯片LDO原文资料.PDF<br/>4. 浮点除法运算及其在单片机上的实现.pd
使用物理地址方式绕开mtd驱动进行nand flash的低级格式化和维护可以修复nand 坏块(不是物理损坏而是由于文件系统造成的坏块)
使用物理地址方式绕开mtd驱动进行nand flash的低级格式化和维护可以修复nand 坏块(不是物理损坏而是由于文件系统造成的坏块)
C51读写K9F5608源程序
C51读写K9F5608源程序，自动判别坏块并跳过。
supervivi2 支持带坏块Nand Flash启动WindowsCE的vivi现已发布, 同时支持使用usb“一键”下载和更新linux/wince系统的vivi是目前最方便、最快的系统烧写方法
supervivi2 支持带坏块Nand Flash启动WindowsCE的vivi现已发布, 同时支持使用usb“一键”下载和更新linux/wince系统的vivi是目前最方便、最快的系统烧写方法,该方法由广州友善之臂首创并维护开发，仅提供映象下载
本文件将介绍Flash Management System的FLASH存储空间划分
本文件将介绍Flash Management System的FLASH存储空间划分，ECC数据纠错，坏块处
理，均匀(寿命)存储算法，逻辑地址/物理地址映射算法实现的方案，
自己编写的flash烧写程序工程
自己编写的flash烧写程序工程，希望能够对大家有所帮助，可以设定烧写的位置，并能够进行坏块检验
基于FPGA的K9F4G08Flash控制器设计
设计了一种能使FPGA的主状态机直接管理Flash的控制器，该控制器具有自己的指令集和中断管理方式。用户可以根据FPGA的系统时钟对控制器进行操作，无需关心Flash对指令和数据的时序要求。控制器建立了自己的坏块管理机制，合并了一些Flash的常用关联指令，方便了用户对FPGA主状态机的设计。
单片机Flash存储器坏块自动检测
在深入了解Flash存储器的基础上，采用单片机自动检测存储器无效块。主要通过读取每一块的第1、第2页内容，判断该块的好坏，并给出具体的实现过程，以及部分关键的电路原理图和C语言程序代码。该设计最终实现单片机自动检测Flash坏块的功能，并通过读取ID号检测Flash的性能，同时该设计能够存储和读取1GB数据。
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<DT>Abstract:
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NAND_Flash的坏块处理
产生坏块的原因是因为NAND Flash的工艺不能保证NAND的Memory Array在其生命周期中保持性能的可靠，所以，在NAND的生产中及使用过程中会产生坏块。<br />