低温
共 149 篇文章
低温 相关的电子技术资料,包括技术文档、应用笔记、电路设计、代码示例等,共 149 篇文章,持续更新中。
LED高低温试验箱及老化测试标准
LED高低温试验箱及老化测试标准 讲了四个方面:
一、LED灯老化检测标准参考
二、高低温试验箱技术规格
三、高低温冲击试验箱技术规格
四、高温老化试验箱技术规格
等离子体杀菌消毒技术的应用进展
介绍了低温等离子体在食品加工和医疗卫生方面的应
用和发展现状。与传统技术相比, 该技术能够大大缓解食品杀菌消毒过程中各种营养物质的损耗, 提高产品鲜
度、改善色泽和滋味; 能够有效地解决医疗器械不耐高温的问题及医用材料的生物相容性问题
制冷剂计算
涵盖制冷剂物性计算与压焓图分析的实用工具,支持多种工质状态点查询,适合低温制冷领域学习与研究。
高精度电压基准源
采用高稳定性运算放大器与激光修调技术,实现0.1%级别的电压精度和低温度漂移特性。适用于高精度测量与校准系统,支持多种封装形式,满足工业级应用需求。
TEMI880中文说明书
帮助工程师快速掌握TEMI880控制器的使用与调试,提升环境试验箱的控制精度与稳定性。适用于高低温试验场景,支持精准温湿度调节,是工业测试设备的核心配置指南。
航空镉镍蓄电池低温特性
深入探讨航空镉镍蓄电池在低温环境下的性能表现,从电池的基本工作原理到实际应用中的挑战,全面解析其低温特性。内容详实,适合从事航空航天、电池技术研究与开发的专业人士参考。
晶闸管
晶闸管在工业中的应用,以及电路中的在高低温下输出情况,
智能温度控制
能智能控制温度,可以按键设置温度的上下限,用lcd显示,有高温断电低温上电的功能和高温报警功能。
KXD系列文本使用手册
KXD北京科兴达电子科技
KXD系列可编程文本显示器操作手册
北京科兴达电子科技有限公司
KXD系列文本用户手册
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目 录
第一章产品概述
1-1 功能 --------------------------------------------------------------------------------------------- 1
1-2 一般规格 -------
低温辐射计红外辐射定标
介绍了低温辐射计原理、设计,以及红外辐射定标的实现方法
纳米TiO_2薄膜的低温烧结制备及表征
纳米TiO_2薄膜的低温烧结制备及表征
可靠性测试检验标准
五.寿命测试标准
四.ESD静电测试标准
三.高低温测试标准
跌落测试标准
表面处理试验
单片机在特殊液晶显示器驱动板中的
开发特殊液晶显示器驱动板,实现将VGA信号转换成符合液晶屏时序的数字信号的功能.该板由单片机、FPGA和其它器件组成.单片机测试输入信号的频率,以确定LCD的分辨率;设置FPGA和AD的寄存器,以控制它们工作.该板已通过高低温的实验测试,并投入使用.
单片机技术在近炸引信中的应用
针对某近炸引信检波电压难以调整,导致高、低温条件下近炸作用可靠性偏低的问题,提出了一种采用单片机技术实现检波电压自身调整,解决了此类问题.并给出了该系统的具体实现方案.
适用于高温环境的 FR5 PCB
耐高低温,高可靠性。低Z轴膨胀系数,通过UL认证,E301969
GBT2423.42-1995 电工电子产品环境试验 低温低气压振动(正弦)综合试验方法.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范(国标、行标、安规、规范)->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.42-1995 电工电子产品环境试验 低温低气压振动(正弦)综合试验方法.pdf
电热锅炉温度控制器的设计
本文介绍了以AT89S51单片机为核心的温度控制器的设计,在该设计中采用高精度的温度传感器AD590对电热锅炉的温度进行实时精确测量,用超低温漂移高精度运算放大器OP07将温度-电压信号进行放大,再送入12位的AD574A进行A\D转换,从而实现自动检测,实时显示及越限报警。控制部分采用PID算法,实时更新PWM控制输出参数,控制可控硅的通断时间,最终实现对炉温的高精度控制
GBT2423.01-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验a 低温试验方法.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范(国标、行标、安规、规范)->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GBT2423.01-2001 电工电子产品环境试验规程第2部分 试验a 低温试验方法.pdf
基于单片机控制的直流恒流源的设计
目前电源技术已逐步发展成为一门多学科互相渗透的综合性技术学科,它对现代通讯、电子仪器、计算机、工业自动化、电力工程、国防及某些高新技术提供高质量、高效率、高可靠性的电源起着关键作用。 本文设计了一种基于单片机控制的数控直流恒流源。该恒流源以AT89S52为控制核心,采用了高共模抑制比低温漂的运算放大器OP07和达林顿管TIP122构成恒流源的主体,配以高精度采样电阻及12位D/A芯片MAX532、
GB/T 2423.01-1989 电工电子产品基本试验规程_高温低温试验导则.pdf
资料->【B】电子技术->【B6】品质管理->【1】标准规范(国标、行标、安规、规范)->【国标 GB】->GB 2421、2423 电工电子产品基本环境试验规程->GB/T 2423.01-1989 电工电子产品基本试验规程_高温低温试验导则.pdf