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DUT（被测设备）是电子测试与测量领域中的核心概念，广泛应用于电路板测试、芯片验证及系统集成等多个环节。掌握DUT相关知识对于提升产品质量、加速研发进程至关重要。本页面汇集了4个精选资源，涵盖从基础理论到高级应用的全面内容，旨在帮助工程师深入了解DUT的设计原则、测试方法及其在实际项目中的最佳实践。无论是初学者还是资深专家，都能在这里找到宝贵的学习资料和技术支持。

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测试系统构建完整指南系列之一，大规模互连系统是专为简化来自或送往DUT或DUT连接件的大量信号的连接而设计的机械结构。 了解如何选择一个合适的大规模互连系统， 并设计适当的连接件，将DUT无缝地连接到系统的其余部分。...

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