本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器件和封装失效， 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。 这组测试应该是有区别的使用，每个认证方案应检查以下： a、任何潜在新的和独特的失效机理；b、任何应用中无显现但测试或条件可能会导致失效的情况；c、任何相反地会降低加速失效的极端条件和应用 。使用本文件并不是要解除 IC 供应商对自己内部认证项目的责任性， 其中的使用者被定义为所有按照规格书使用其认证器件的客户， 客户有责任去证实确认所有的认证数据与本文件相一致。 供应商对由其规格书里所陈述的器件温度等级的使用是非常值得提倡的。 此规格的目的是要确定一种器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。 如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果， 那么将允许供应商声称他们的零件通过了 AEC Q100认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些， 但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了 AEC Q100认证。
上传时间： 2022-05-07
上传用户：yui0900826
blackfin中实现的AEC算法，算法模块用汇编实现，供参考
上传时间： 2014-01-11
上传用户：duoshen1989
包含md5,aec,dec算法，经过编译通过运行测试。
上传时间： 2016-02-17
上传用户：songyue1991
实现AEC算法的测试标准，当然有许多测试项目仍然在更新中
上传时间： 2013-12-02
上传用户：zjf3110
《原创》汽车级（AEC-Q200）电解电容寿命分析
标签： 电解电容
上传时间： 2022-02-14
上传用户：kent
汽车电子行业芯片制造规范文件 AEC-Q100英文版, rev G
标签： AEC_Q100汽车电子
上传时间： 2022-07-16
上传用户：1208020161
AEC-Q100 qualified • 12 V and 24 V battery systems compliance • 3.3 V and 5 V logic compatible I/O • 8-channel configurable MOSFET pre-driver – High-side (N-channel and P-channel MOS) – Low-side (N-channel MOS) – H-bridge (up to 2 H-bridge) – Peak & Hold (2 loads) • Operating battery supply voltage 3.8 V to 36 V • Operating VDD supply voltage 4.5 V to 5.5 V • All device pins, except the ground pins, withstand at least 40 V • Programmable gate charge/discharge currents for improving EMI behavior
标签： configurable Automotive pre-driver suitable channel systems MOSFET fully High side
上传时间： 2019-03-27
上传用户：guaixiaolong
苏州纳芯微公司的数字隔离器选型手册2017 年正式推出满足 AEC-Q100 车规级标准的 NSi81xx 系列 EMC 增强型多通 道数字隔离芯片，将产品线扩展至通用 IC 领域
上传时间： 2021-01-26
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ad9280_9708 ADDA模块硬件资料+PDF原理图+AD、PADS、CADENCE3中格式原理图库PCB封装库文件:原理图库：Library Component Count : 41Name Description----------------------------------------------------------------------------------------------------AD8065ARTAD9280ARSZRL AD9708ARUZB5S_0 C1608CT2012_0 CT2012_0_1INDUCTOR INDUCTOR_1 LED_0 LED GRN SGL 25MA 0603LQH32C_0 LQH32C_0_1 MC34063AD 1.5-A PEAK BOOST/BUCK/INVERTING SWITCHING REGULATORS, -40 to 85℃RES_ADJ_0 Single Turn Top Adjust, 3362PTL072 TLV1117-33 IC REG LDO 3.3V 1A SOT223ZDIODE_0 DIODE ZNR -- 0.2W 5.1V AEC-Q101 SOD523PCB封装库：Component Count : 17Component Name-----------------------------------------------3386P-1C0603DIP-2X20_2P54EC6P3L0603L1210L7373LED0603R0603R2512SMASMA_THVT_312X312SOP8SOT23-5SOT223SSOP28_0R65_10R2X7R8TSSOP28_0R65_9R7X4R4
上传时间： 2021-12-04
上传用户：突破自我
S32K1xx Series Reference Manual 用户手册--2029页 Supports S32K116, S32K118, S32K142, S32K144, S32K146, and S32K148S32K是一款符合AEC-Q100规范、基于32位ARM Cortex-M4F和Cortex-M0+内核的MCU，适用于通用汽车和高可靠性工业应用。The S32K1xx product series further extends the highly scalable portfolio of Arm® Cortex®-M0+/M4F MCUs in the automotive industry. It builds on the legacy of the KEA series, while introducing higher memory options alongside a richer peripheral set extending capability into a variety of automotive applications. With a 2.70–5.5 V supply and focus on automotive environment robustness, the S32K product series devices are well suited to a wide range of applications in electrically harsh environments, and are optimized for cost-sensitive applications offering low pin-count options. The S32K product series offers a broad range of memory, peripherals, and package options. It shares common peripherals and pin counts, allowing developers to migrate easily within an MCU family or among the MCU families to take advantage of more memory or feature integration. This scalability allows developers to use the S32K product series as the standard for their end product platforms, maximizing hardware and software reuse and reducing time to market
标签： S32K116 S32K118 S32K142 S32K144
上传时间： 2022-04-15
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